Dappler Labs startades av KTH-forskare som utvecklat ett helt nytt sätt för att genomföra mätningar för kvalitetskontroll inom halvledartillverkning. Dappler Labs utvecklar en metrologilösning som avsevärt minskar kostnader och snabbar upp inspektionsprocesser för halvledare.
Deras teknologi utnyttjar optiska mikroskop samtidigt som man kan uppnå subnanometerprecision. Allt sker på en bråkdel av tiden och kostnaden för traditionella metoder såsom elektronmikroskopi.